1、试验目的
研究试样的光学、热学、力学、化学和电学等特性受到机械作用力影响的变化程度。
2、引用标准
GB12085.1光学和光学仪器环境试验方法术语、试验范围
GB2423.5电工电子产品基本环境试验规程Ea: 冲击试验方法
GB2423.6电工电子产品基本环境试验规程Eb: 碰撞试验方法
GB2423.15电工电子产品基本环境试验规程Ga: 恒加速度试验方法
GB2423.7电工电子产品基本环境试验规程Ec: 倾跌与翻倒试验方法
GB2423.8电工电子产品基本环境试验规程Ed: 自由跌落试验方法
GB2423.10电工电子产品基本环境试验规程Fc: 振动(正弦)试验方法
GB2423.11电工电子产品基本环境试验规程Fd: 宽带随机振动试验方法一般要求
GB2423.13电工电子产品基本环境试验规程Fdb: 宽带随机振动试验方法中再现性
3、条件试验
a.条件试应方法30: 冲击
条件试验方法30冲击的严酷等级按表1，并优先选用严酷等级02、03、05。试验采用半正弦冲击波并在三个轴线方向均受到三次冲击。
b.条件试验方法31: 碰撞
条件试验方法31碰撞的严酷等级按表2
c.条件试验方法32: 倾跌和翻倒
条件试验方法32倾跌和翻倒的严酷等级按表3
d.条件试验方法33:自由跌落
条件试验方法33自由跌落的严酷等级按表4.适用于在正常贮存条件下带包装的光学仪器，试样跌落次数为2次。若要增加跌落次数则应在有关标准中指明跌落次数，推荐选用的跌落次数为:10、20、50。
e.条件试验方法35:恒加速度条件试验方法35恒加速度的严酷等级.
4、有关标准应包括的内容
a.环境试验标记，
b.试样数量，
C.条件试验方法30和31暴露的轴线和方向，
d.条件试验方法32给出倾斜的边和试验次数，
e.条件试验方法33条件试验前后的包装条件、试验次数及暴露的边和角、表面数，
f.条件试验方法34待暴露的表面，
g.条件试验方法35试样暴露的轴线，
h.条件试验方法36和37试样暴露的轴线，
i.条件试验方法36对每个特性频擎的暴露时间，适合成样安装部位的特性频率，
j.预处理，
k.初始检测的内容和范围。
